Van Der Hoofden 探頭是依據(jù)IEC 62493 Ed.2.0 2015 標(biāo)準(zhǔn)所要求的電路和基本特征設(shè)計(jì)制作

主要目的是用來(lái)評(píng)估照明設(shè)備于20KHz到10MHz量測(cè)范圍關(guān)聯(lián)到人體暴露于電磁場(chǎng)所產(chǎn)生的影響。

通過(guò)照明與人類之間耦合不同方式,可以導(dǎo)出人類暴露于電磁場(chǎng)的位準(zhǔn),通過(guò)EMI測(cè)試接收機(jī)與Van Der Hoofden探頭,做測(cè)量與評(píng)估

VDH 30包含一個(gè)直徑為210mm ±5mm 的傳導(dǎo)球體并放置于一個(gè)絕緣支撐架上(木質(zhì),塑料材料), 經(jīng)短電纜線(300mm)直接連接到一個(gè)保護(hù)網(wǎng)路上。

電磁干擾測(cè)試接收機(jī)輸入端必須連接到保護(hù)網(wǎng)絡(luò)的N型接頭于20KHz到10MHz測(cè)量范圍去執(zhí)行測(cè)量,

所測(cè)量的電壓值結(jié)果加權(quán)與合計(jì)結(jié)果來(lái)比較法規(guī)所定義的注入電場(chǎng)強(qiáng)符合因子F,  不得超過(guò)1的要求,  這些計(jì)算可以通過(guò)此AFJ  EMI 接收機(jī)提供的計(jì)算軟件來(lái)達(dá)成