服務項目
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EMC PARTNER
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IEC綜合抗擾度測試器 IMU-MGE/MGS,DOW-CG1
- EFT電快速瞬變脈沖群發(fā)生器 IEC61000-4-4
- Surge 雷擊/浪涌發(fā)生器 IEC61000-4-5
- 10/700us 雷擊/通信波發(fā)生器 IEC61000-4-5,ITU-K21
- MF磁場抗擾度測試/天線 IEC61000-4-8,-9,-10
- DIP電壓跌落/中斷測試器 IEC6100-4-11
- Ringwave振鈴波發(fā)生器 IEC61000-4-12
- CM共??箶_度發(fā)生器 IEC61000-4-16
- DOW阻尼震蕩波發(fā)生器 IEC61000-4-18,ANSI
- DM差??箶_度測試器 IEC61000-4-19
- 交直流電源系統(tǒng) IEC61000-4-28
- DIP DC電壓跌落測試器 IEC61000-4-29
- DIP 三相跌落測試器 IEC61000-4-34
- 測試附件
- 耦合去耦合網(wǎng)絡
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靜電發(fā)生器 ESD3000 IEC61000-4-2,ISO,MIL
- 靜電發(fā)生器/靜電槍 ESD3000主機
- 150pF+330? ,16kV模塊 IEC61000-4-2
- 150pF+330? ,30kV模塊 IEC61000-4-2
- 330pF+2000? ,30kV模塊 ISO 10605
- 150pF+2000? ,30kV模塊 ISO 10605
- 330pF+330? ,30kV模塊 ISO 10605
- 100pF+1500Ω,16kV模塊 MIL-STD-883
- 500pF+500? ,30kV模塊 MIL-1512,STANAG4239
- 500pF+5000? ,30kV模塊 MIL-1512,STANAG4239
- 500pF+ 0? ,30kV模塊 MIL-1576
- 100pF+1500Ω,8kV模塊 IEC61340-3-1
- 電流波形校正靶2?
- 電壓校正器
- 易爆裝置安全開關
- 易爆裝置測試箱
- 放電模塊的延伸導線
- ESD3000 磁場測試環(huán)路
- 諧波/電壓閃爍分析儀 IEC61000-3-2,-3
- 通信雷擊波/CDN ITU K44, K20, K21, K12
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雷擊/脈沖耐壓測試發(fā)生器 IEC60060-1,IEC61010-1
- 1.2/50us 40Ω 雷擊發(fā)生器 6kV~24kV
- 1.2/50us 40Ω 雷擊發(fā)生器12kV / IEC 60950
- CWG 2Ω 雷擊發(fā)生器18kV / 24kV
- 1.2/50us 12Ω ,500Ω 雷擊發(fā)生器18kV/IEC60335-1
- 1.2/50us 12Ω ,500Ω,2Ω 雷擊發(fā)生器36kV
- 1.2/50us 16Ω, 50Ω , 2Ω 雷擊發(fā)生器48kV
- 1.2/50us 500Ω 雷擊發(fā)生器72~144kV
- 1.2/50 μs 500Ω, 0.5J脈沖發(fā)生器500V~8kV
- 1.2/50 μs 40Ω 脈沖發(fā)生器 500V~30kV
- 雷擊保護元件(SPD)測試器 IEC61643-11,UL1449
- 軍標測試測試發(fā)生器 MIL461 CS115,CS116,CS106
- 航空電子間接雷電測試器 DO160,MIL461 CS117
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IEC綜合抗擾度測試器 IMU-MGE/MGS,DOW-CG1
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首頁>VDH30
- VDH30
- 標簽 : Van Der Hoofden 探頭
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- 簡介 : VDH30 的 Van Der Hoofden 測試系統(tǒng)可確定燈具引起的人體暴露輻射,頻率范圍為 20kHz 至 10MHz。該測量以 IEC62493(IEC34/116/CD:2008)為基礎。通過燈具和人類之間不同的耦合方式,可以得出人暴露于電磁場的水平。暴露中的一部分是基于照明設...
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Van Der Hoofden 探頭是依據(jù)IEC 62493 Ed.2.0 2015 標準所要求的電路和基本特征設計制作
主要目的是用來評估照明設備于20KHz到10MHz量測范圍關聯(lián)到人體暴露于電磁場所產(chǎn)生的影響。
通過照明與人類之間耦合不同方式,可以導出人類暴露于電磁場的位準,通過EMI測試接收機與Van Der Hoofden探頭,做測量與評估
VDH 30包含一個直徑為210mm ±5mm 的傳導球體并放置于一個絕緣支撐架上(木質(zhì),塑料材料), 經(jīng)短電纜線(300mm)直接連接到一個保護網(wǎng)路上。
電磁干擾測試接收機輸入端必須連接到保護網(wǎng)絡的N型接頭于20KHz到10MHz測量范圍去執(zhí)行測量,
所測量的電壓值結(jié)果加權與合計結(jié)果來比較法規(guī)所定義的注入電場強符合因子F, 不得超過1的要求, 這些計算可以通過此AFJ EMI 接收機提供的計算軟件來達成
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